2011/02/13

地磁気センサの静置試験

以前変換基板を作製した地磁気センサAMI304の静置試験を、I2C-USBブリッジを使って行いました。

地磁気センサは機体の姿勢角の取得に利用する予定ですが、出力に温度等の原因によるドリフトがあると正確な値を得ることは難しくなります。
そこで、地磁気センサの出力を10spsで1時間ほど取得し、安定性の指標となるアラン分散を求めてみました。
ログデータからアラン分散を求めるにはAlaVarを使用しました。

地磁気センサのアラン分散(Z軸)
60秒くらいからアラン分散の値が上昇しており、何らかのドリフトが認められますが、今回の実験では恒温槽を使って温度を安定させているわけではないので、測定中のチップ温度の変化によるドリフトだと考えられます。
したがって、正確な姿勢角が求めるには、ゼロ点と感度の温度特性を求めないとなりません。

地磁気センサのゼロ点と感度を求める作業は、日本応用磁気学会誌に書いてある方法で行えますが、周りの磁気環境には十分注意を払う必要があります。
実際、今回の実験では、ファスナーのついた服を着て作業を行っていたのですが、そこから出る磁気によってセンサの値が変わることが確認できています。

また、データシートによると、はんだ付け作業など、熱ストレスによってもゼロ点・感度に変化が出るらしいので、実際使う基板に実装した上でのキャリブレーションが必須になると考えられます。
まずは基板のアートワークと組み立てを行わないとならないので、実際にキャリブレーション作業を行うのはしばらく後になりそうです。

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